 Verfasst am: 27. Aug 2006 09:49 Titel: |
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| Das sind die bekanntesten (OK, scopus ist ziemlich neu) Literaturdatenbanken. Die sind schweineteuer (mindestens Gegenwert eines Kleinwagens im Jahr ++), werden aber trotzdem von den meisten UBs genutzt.
Versuch mal, ob du www.isiknowledge.com oder www.scopus.com aus dem Uninetz nutzen kannst. Über die Webseiten der UBs gelangt man oft über einem Menuepunkt der sich "digitale Bibliothek", "Fachdatenbanken" oder so nennt dort hin. Eine Anfrage wie "(grain boundary) AND conduct* AND semicond*" sollte Ergebnisse bringen. Je nach Treffern dann genauer fassen und erst mal die vielzitierten Arbeiten ansehen. Gefühlsmäßig gibts da was weil Korngrenzen in Halbleitern ein standard-"Feature" für Elektronenmikroskopie sind und so Sachen oft unter dem Aspekt der potentiellen Nutzung untersucht werden und die Leitfähigkeit ist dafür ja nicht unwichtig. |
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| Verfasst am: 26. Aug 2006 23:01 Titel: |
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| ...ähm nö hab ich noch nicht, hör das erste Mal davon.
Und wie ist das, muss man sich da überall anmelden? Wenn ja, wird man schnell frei geschalten? Hab nur noch eine Woche für mein Dipl. TEM-Publikationen klingt auch sehr interessant, wie kommst Du darauf? Woher kommt Dein Gefühl :-) ? Besten Dank für die Infos Grüße Stephan |
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| Verfasst am: 26. Aug 2006 22:29 Titel: |
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| Da wird es (gefühlsmäßig) aus dem Bereich der experimentellen TEM Publikationen zu geben. Die Fragestellung kommt mir nicht so exotisch vor, da sollte sich was finden lassen. Hast du schon ISI Web of Science, Scopus, inspec etc. durchsucht? | |
| Verfasst am: 26. Aug 2006 00:52 Titel: Leitfähigkeit über Korngrenzen in n-Halbleitern |
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| Guten Abend,
bin schon eine Weile auf der Suche nach Literatur, Publikationen und/oder Formeln über die Abhängigkeit der elektrischen Leitfähigleit von Korngrenzen (Anzahl, Fläche, ...) in n-halbleitenden Dünnschichten (TCO`s). Leider konnte ich noch nix brauchbares entdecken. Gibt es vielleicht hier im Forum jemanden, der mir weiterhelfen kann? wäre sehr dankbar Grüße Stephan |
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